檔案:Silicium-atomes.png

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English: Silicon atoms observed at the surface of a silicon carbide (SIC) crystal using a Scanning Tunneling Microscope (STM)
Français : Atomes de silicium observés à la surface d'un cristal de carbure de silicium (SiC) à l'aide d'un microscope à effet tunnel (STM)
Image de microscopie à effet tunnel réalisée au lppm à Orsay
作者 Guillaume Baffou

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九月 2005

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二〇一〇年四月九日 (五) 一三時一七分於二〇一〇年四月九日 (五) 一三時一七分之縮一七七矩一七七(五四 KB)Guillaume.Baffou~commonswiki{{Information |Description={{en|1=Silicon atoms observed at the surface of a silicon carbide (SIC) crystal using a Scanning Tunneling Microscope (STM)}} {{fr|1=Atomes de silicium observés à la surface d'un cristal de carbure de silicium (SiC) à l'aide

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